Course Description แนวคิดเกี่ยวกับการหาลักษณะเฉพาะของวัสดุ การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน แบบส่องกราด กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทันเนลลิ่งส่องกราด กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม Concepts of materials characterization technique, X-ray Diffraction, Scanning Electron Microscopy, Transmission Electron Microscopy, Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy หมายเหตุ เรียน C = Lecture L = Lab R = ประชุม S = Self Study T = ติว หมวด B = วิชาเสริมพื้นฐาน E = วิชาเลือกเฉพาะสาขา F = วิชาเลือกเสรี G = วิชาศึกษาทั่วไป M = วิชาพื้นฐาน W = วิชาบังคับ X = - ยังไม่กำหนด |